نتایج جستجو برای: طیف XRD

تعداد نتایج: 44883  

Journal: :مجلة القراءة والمعرفة 2019

ژورنال: :تابش و فناوری هسته ای 0
محمدعلی شفائی عضوهئیت علمی

در این تحقیق به بررسی ضریب تضعیف جرمی در پرتو دهی تابش گاما در ضخامت های مختلف از جنس های نانو سرب اکسید و نیترات سرب پرداخته شده است. در این مطالعه اندازگیری های دقیقی بر روی میزان عبور اشعه گامای گسیل شده و یا پرتوx حاصل تابش ترمزی اشعه بتا از چشمه های cs137، ra226 و sr90 با آشکارساز گایگر مولر انجام گرفته است. قابل توجه است که استرانسیم-90 یک ایزوتوپ ناپایداری ست که دارای طیف گسترده ای از ذر...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه بوعلی سینا - پژوهشکده بوعلی 1390

آلیاژهای فلزی آمورف دارای ساختار اتمی بی نظم می باشند. ساختارهای بی نظم، از حالت مایع در طول سرمایش سریع تولید می شوند به همین خاطر دارای خواص منحصر به فردی هستند و کاربردهای بسیاری دارند. در این پایان نامه، آلیاژ فلزی آمورف 9b13si78 fe مورد مطالعه قرار گرفت. با انجام آزمایش dsc روی نمونه ها در آهنگ های گرمایی مختلف، توانستیم دمای شروع تبلور، اوج تبلور، انرژی فعال سازی و توان اورامی و دیگر پارا...

Journal: : 2023

قدرت تفکیک دستگاه طیف‌نگار جرمی به صورت مستقیم شدت یون خروجی و انرژی آن بستگی دارد. مقدار تولید شده جریان باریکه الکترونی وابسته است. از جمله وظایف مدار کنترل چشمه برخورد تنظیم برای رسیدن بهینه می‌باشد. در ساخت پارامترهایی نظیر تثبیت آن، دقیق پتانسل الکتریکی لنز الکترودهای یونی بسیار حایز اهمیت این مقاله با قابلیت انتشار الکترون، پتانسیل نقاط طراحی ساخته شد. کنترلر بر روی طیف نگار 44Varian MAT ...

2009
John Hunt

The structure of a crystalline material may be described by a crystal lattice structure and the locations of atoms in this lattice. The crystal lattice is a 3-dimensional periodic array that defines the symmetries, i.e. shape, of the crystal. There are seven possible crystal lattices: cubic, hexagonal, tetragonal, rombohedral, orthorhombic, monoclinic and triclinic. When we define the possible ...

ژورنال: شیمی کاربردی 2020

در این مقاله نانو ذرات La0.6Sr0.4MnO3 با استفاده از روش تابش ماکروویو تهیه شده‌اند. خواص ساختاری، مغناطیسی، اپتیکی و فوتوکاتالیستی نانو ذرات با استفاده از الگوی پراش اشعه‌ی X (XRD)، میکروسکوپ الکترون عبوری (TEM) ،طیف مادون فرمز(FTIR)، مغناطش سنج نمونه ارتعاشی (VSM) و طیف سنجی فرابنفش– مرئی (UV vis) بررسی گردید. ثابت شبکه، حجم یاخته، گروه فضایی، زاویه و طول پیوند به کمک تحلیل پراش اشعه ی ایکس (X...

ژورنال: :جغرافیا و برنامه ریزی محیطی 0
لیلا لطفی حسین نگارش حسین نگارش

چکیده   دشت سیستان بدلیل وجود رسوبات آبرفتی و رودخانه ای ریز دانه، فرسایش پذیری زیادی داشته که با توجه به وزش بادهای120 روزه و خشک بودن منطقه این ذرات ریز به راحتی جا بجا شده و باعث به وجود آمدن تپه های ماسه ای به اشکال مختلف می شوند . تحقیقات میدانی حکایت از این دارد که منشاء رسوبات منطقه به رسوبات پلییستوسن و رسوبات جدید یعنی نهشته های دریاچه ای بستر هامونهای خشک شده فعلی و نهشته های دلتایی ر...

ژورنال: :علوم و مهندسی سطح ایران 0

هدف از این تحقیق ساخت نانوذرات مس- نیکل با اندازه های مختلف، به منظور  بررسی خواص کاتالیستی، مغناطیسی و حسگری این نانوذرات    می باشد. بنابراین نانو ذرات هسته-پوسته ای مس- نیکل در بستر لایه نازک کربنی به روش همزمان انباشت بخار شیمیایی و کند وپاش پلاسمای امواج رادیویی از هدف مس و نیکل در محیط گاز استیلن ساخته شد. ابتدا نانو ذرات مس در بستر کربنی آماده شدند. سپس لایه نیکل با ضخامت های مختلف روی آ...

ژورنال: :پژوهش های نوین در شیمی تجزیه 0

در این تحقیق نانو ذرات اکسید روی با استفاده از عصاره گل کاغذی با موفقیت سنتز شد. فرآیند تشکیل نانو ذرات اکسید روی بوسیله طیف سنج فرابنفش- مرئی (uv-vis) تعیین گردید. علاوه بر این شناسایی نانو ذرات اکسید روی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) و طیف سنج پرتو ایکس (xrd) نیز انجام شد. تصاویرsem نانو ذرات اکسید روی غیر متراکم شده به طور یکنواخت را نشان می دهد. نتایج xrd وجود نانو کریستال ها...

ژورنال: :علوم و مهندسی سطح ایران 0
حسین جمالی دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر رضا مظفری نیا دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

هدف از پژوهش حاضر، تولید پوشش محافظ ژرمانیوم-کربن به وسیله فرآیند رسوب دهی شیمیایی از بخار به کمک پلاسما (pecvd) با استفاده از پیش ماده های گازی ژرمان (geh4) و متان (ch4) و سپس مشخصه یابی آن است. برای این منظور، از میکروسکپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem) مجهز به طیف سنج تفکیک انرژی (eds)، پراش سنج پرتو ایکس (xrd)، طیف سنج مادون قرمز تبدیل فوریه (ftir)، طیف سنج فتوالکترون پرتو ایکس (xps)، طی...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید